薄膜光学实验室
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光学显微镜
更新时间:2023-11-23 【
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设备参数
设备联系人
型号：Axio Scope 5
主要指标：
可观察最小尺度1 μm的缺陷，高级暗场功能下可以观察纳米尺度的缺陷
可对膜层厚度进行测量
功能：
用于样品表面形貌表征
李静平
021-69918395
