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 设备参数

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• 型号：自研
• 主要指标：
  测量波长：355 nm、532 nm、1064 nm、800 nm
  脉冲宽度：~ 8 ns@355 nm，~ 10 ns@532 nm，~ 12 ns@1064 nm，~ 100 fs@800 nm
  测量角度：0° ~ 60°
  偏振态：水平偏振（P）或垂直偏振（S）
  最大可测量元件口径：830 mm × 430 mm ×100 mm
• 功能：
  测量光学元件激光损伤阈值，测量方法包括：1-on-1、s-on-1，r-on-1，raster scan等