薄膜光学实验室

光学表面微弱吸收测量装置

更新时间:2023-11-23 【打印】 【关闭

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 设备参数

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型号:自研
主要指标:
测量波长:355 nm及1064 nm
灵敏度:优于0.5 ppm
测量口径:20 mm ≤ Φ ≤ 60 mm,厚度< 8 mm
功能:
光学元件表面微弱吸收损耗测量
徐子媛
18512133403