双光子荧光成像与瞬态吸收显微成像技术,通过非线性光学原理,可对半导体材料和器件进行无损、三维的高分辨表征。双光子成像利用长波红外激光激发信号,凭借低背景噪声与深层穿透能力,可实现对半导体薄膜、纳米结构的三维高分辨成像。其在揭示器件界面缺陷、纳米颗粒分布及光电器件性能关联方面具有独特优势。瞬态吸收成像以皮秒至飞秒级时间分辨率,捕捉材料光激发后的超快载流子动力学过程,直接指导高效光电器件的设计与优化。讲座将以半导体材料等实例,阐明多模态成像技术如何推动材料创新与器件性能突破,欢迎参加!
Biography
兰璐,波士顿大学博士,振电(苏州)科技 CTO。在顶级期刊(Light Sci. Appl.、Nat. Commun.等)发表多篇论文,授权美国专利6项。发明快速术中光声断层扫描技术,获 2016 年 BMEidea 全国冠军、2020 年获波士顿大学工程学院社会影响奖,合作研发键选择性相位显微系统,获 2020 “Microscopy Today” 十大创新奖。2022年带队完成相干拉曼分子光谱等非线性光学设备研发并产品化,实现海内外产品数千万销售额。
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